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英國ABI-AT256全品種集成電路測試儀
發(fā)布時間: 2013-01-21 點擊次數(shù): 2737次英國ABI-AT256全品種集成電路測試儀產(chǎn)品介紹:zui大測試管腳數(shù):256
AT256全品種集成電路測試儀測試適用范圍:
電路板測試-適用各種電路板的檢測(附加測試電纜線和各種封裝的測試夾)
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號,產(chǎn)生一個阻抗特征圖,以備對比和存儲。
被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對,阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率??筛鶕?jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。
1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.商品輸入檢驗
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
標準提供多達128個測試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級模塊:64通道
可擴充到192/256個測試通道。
AT256全品種集成電路測試儀用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。通用型PLCC轉(zhuǎn)接器(用于測試有20~84腳的PLCC封裝)
用戶可根據(jù)自己的需要,用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測試數(shù)據(jù)庫,以備日后測試使用。創(chuàng)建一個測試庫僅需要數(shù)秒的操作時間,操作十分簡單容易。
將數(shù)據(jù)庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:
• 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。
1)軟件提供測試庫圖形化修改功能,以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫,
2)軟件可以自定義各個通道的使用,一臺機器可以同時檢測多個器件
1)軟件可產(chǎn)生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2)用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態(tài)阻抗圖可儲存在pc中,并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3)為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。針?。≒inPrint)動態(tài)阻抗詳細分析元件的管腳. 定制化的報告(PinPrint).
1)標準型:標準SOIC轉(zhuǎn)接器
用于SOIC及PLCC封裝; 一個轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。一個轉(zhuǎn)接器即適用于測試寬0.15”~0.6”達44腳的集成電路。
可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請進一步洽詢, 以設(shè)計符合您需求的轉(zhuǎn)接器。BGA插座轉(zhuǎn)接器 掃描測試波形 正弦波,鋸齒波,三角波 掃描測試頻率 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz 掃描電壓(Vs) 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進0.1V 掃描源電阻(Rs) 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ 掃描通道 AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn))
AT192通道數(shù)量:192通道
AT256通道數(shù)量:256通道
顯示模式:VI曲線圖
掃描模式:手動或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù)掃瞄模式 一般模式:掃描信號是以一固定管腳為參考點,測試信號施加到待測元器件上.
矩陣模式:掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點,測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上.電腦連接 USB
連接電腦使用,標準配置含上位機軟件適合不同封裝形式元件: 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊及電路板。測試報告 可自行編輯測試報告
功率需求 線路電壓:85~264VAC
頻率:47~63Hz
功率:zui大150W尺寸/重量 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg 操作溫度.濕度 溫度:10°C~30°C濕度: 20~80% RH。 保修期 一年 認證 CE認證& RoHS合格。 計算機規(guī)格需求 Microsoft Windows XP或Vista
Pentium 4或更高
zui小的RAM:512 MB
硬盤空間:200MB
USB2.0高速傳輸
鼠標,鍵盤與屏幕標準配件: 用戶手冊。
USB導線。
軟件CD(含驅(qū)動程序與操作手冊)。選購配件: 校正工具組。
各種轉(zhuǎn)接器。
儀器用途一
• 可由倉庫部門在收到集成電路時進行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識即可操作這個系統(tǒng)。
• 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測試數(shù)據(jù)。用戶可應用完整的報告, 確定問題的來源。
能快速簡單檢測出翻新IC及集成電路測試的解決方案。
Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實地假裝是真品。英國ABI-AT256集成電路測試儀適配座部分選配清單
適配座型號
圖片
適配座型號 圖片 SOP-20
PLCC-44 SOIC-28
PLCC-68 SSOP-28
QFP-44 SSOP-34
QFP-64 TSOP-48
QFP-100 TSOP-54
QFP-128 TSOP-56
QFP-144